了解線的分析法（截線法）顯微鏡圖像觀測(cè)（之一）
所謂的截線法，其實(shí)也稱為是線分析法，就是利用
晶界相交的點(diǎn)數(shù)來(lái)進(jìn)行晶粒度大小的檢測(cè)，前提是在
規(guī)定的長(zhǎng)度測(cè)試線上進(jìn)行的，
這種檢測(cè)方法現(xiàn)在使用的比較廣泛，其主要的優(yōu)點(diǎn)
及時(shí)速度快、精度高，一般情況下，只需要測(cè)量五次
，就可以得出比較滿意的結(jié)果，
顯微鏡圖像中，進(jìn)行自動(dòng)圖像分析的時(shí)候，主要就
是借助計(jì)算機(jī)來(lái)進(jìn)行圖像的采集，主要的幾何圖像包
括：數(shù)量、尺寸、位置和外形等等，
還有色彩信息的裝置，其主要是為了能夠進(jìn)行數(shù)據(jù)
的統(tǒng)計(jì)，而且是自動(dòng)處理了，圖像分析儀進(jìn)行測(cè)量
的速度比較快，
這樣檢測(cè)的速度就得到了提高，能夠多測(cè)量幾次，
這樣可以避免人為所出現(xiàn)的誤差，從而就可以對(duì)測(cè)
量精度方面有所提高。
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